(1).jpg)
Приказ Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 16 декабря 2011 г. N 6382 "Об утверждении типов стандартных образцов"
Об утверждении типов средств измерений и типов стандартных образцов см. справку
Во исполнение приказа Минпромторга России от 30 ноября 2009 г. N 1081 "Об утверждении Порядка проведения испытаний стандартных образцов или средств измерений в целях утверждения типа, Порядка утверждения типа стандартных образцов или типа средств измерений, Порядка выдачи свидетельств об утверждении типа стандартных образцов или типа средств измерений, установления и изменения срока действия указанных свидетельств и интервала между поверками средств измерений, требований к знакам утверждения типа стандартных образцов или типа средств измерений и порядка их нанесения", зарегистрированного в Минюсте России 25 декабря 2009 г. под N 15866, приказываю:
1. Утвердить типы стандартных образцов согласно прилагаемому перечню.
2. Управлению метрологии (В.М. Лахову), ФГУП "УНИИМ" (С.В. Медведевских) обеспечить в соответствии с Временным порядком рассмотрения и прохождения документов при утверждении типа стандартных образцов или типа средств измерений, утвержденным приказом Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 31 августа 2010 г. N 3349, оформление свидетельств на утвержденные типы стандартных образцов с описанием типов стандартных образцов и выдачу их юридическому лицу или индивидуальному предпринимателю.
3. Контроль за исполнением настоящего приказа оставляю за собой.
|
ВРИО Руководителя Федерального агентства |
Е.Р. Петросян |
Приложение
к приказу Федерального агентства
по техническому регулированию и метрологии
от 16 декабря 2011 г. N 6382
Перечень типов стандартных образцов
|
N п/п |
Типы стандартных образцов | Изготовитель стандартных образцов | Регистрационный номер в Государственном реестре утвержденных типов стандартных образцов |
|---|---|---|---|
| 1. | СО пространственных характеристик полупроводниковых гетероструктур ОСАГА-60 | МФТИ | 10031-2011 |
| 2. | СО пространственных характеристик полупроводниковых гетероструктур ОСАГА-100 | МФТИ | 10032-2011 |
| 3. | СО среднего размера кристаллита в поликристаллических наноструктурированных покрытиях ПОЛИП-10 | МФТИ | 10033-2011 |
| 4. | СО среднего размера кристаллита в поликристаллических наноструктурированных покрытиях ПОЛИП-50 | МФТИ | 10034-2011 |
| 5. | СО пространственных характеристик наноструктур на основе аморфных многослойных покрытий СПАМ-20 | МФТИ | 10035-2011 |
| 6. | СО пространственных характеристик наноструктур на основе аморфных многослойных покрытий СПАМ-100 | МФТИ | 10036-2011 |
| 7. | СО среднего размера элементов микроструктуры функциональных наноструктурированных покрытий СОНАЛ-I | МФТИ | 10037-2011 |
| 8. | СО среднего размера элементов микроструктуры функциональных наноструктурированных покрытий СОНАЛ-II | МФТИ | 10038-2011 |
| 9. | СО массовой доли неодима в редкоземельном наноструктурном сплаве (комплект МДН) | ОАО "ВНИИНМ" | 10039-2011 |
| 10. | СО массовой доли бора в редкоземельном наноструктурном сплаве (комплект МДБ) | ОАО "ВНИИНМ" | 10040-2011 |
| 11. | СО магнитной текстуры редкоземельного наноструктурного сплава (комплект МТ) | ОАО "ВНИИНМ" | 10041-2011 |
Приказ Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 16 декабря 2011 г. N 6382 "Об утверждении типов стандартных образцов"
Текст приказа официально опубликован не был
Обзор документа
Утверждены 11 типов стандартных образцов.
Среди них - СО пространственных характеристик полупроводниковых гетероструктур ОСАГА-60, СО среднего размера кристаллита в поликристаллических наноструктурированных покрытиях ПОЛИП-50, СО пространственных характеристик наноструктур на основе аморфных многослойных покрытий СПАМ-100.
